測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
PCT高壓加速老化試驗機 技術參數:
◆型 號 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550
◆內箱尺寸(cm)Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60
◆外箱尺寸(cm)W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W860×H135×D145
◆控制器:微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器
◆分辨率溫度:0.1壓力:指針式0.1
◆控制穩定度:溫度:±0.5℃,濕度:
◆內箱材質:SUS316#不銹鋼
◆外箱材質:鋼板烤漆或不銹鋼(依客戶選擇)
◆溫度范圍:110℃~132℃ 110℃~147℃
◆濕度范圍:00%RH飽和蒸氣
◆壓力范圍:表壓力+0.2~2.0kg/cm2 表壓力+0.2~3.5kg/cm2
◆加壓時間:大約45分鐘 大約55分鐘
◆循環方式:蒸氣自然對流循環
◆安全保護:感溫器檢測保護,階段高溫保護,階段高壓保護,箱門壓力限制,水◆箱缺水報警斷電,溫度加熱器保護,濕度加濕器保護,二階段高溫保護,二階段高壓保護,三階段緊急泄壓保護,,手動泄壓保護,自動泄壓等。
PCT高壓加速老化試驗機 設備特點: ◆圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象. ◆圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊. ◆水管采用銅管+喇叭口,精密設計,氣密性良好,耗水量少。 ◆型packing ,材質:耐高溫夕膠發泡成型,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延長packing壽命. ◆實驗開始前可將原來內箱之空氣抽出,并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內之純凈度. 更多詳情咨詢::陳 : : 2865250797 PCT高壓加速老化試驗機 滿足標準: ◆IEC60068-2-66 ◆JESD22-A102-B ◆EIAJED4701 ◆EIA/JESD22 我司主要生產銷售:PCT高壓加速老化試驗機、鹽霧試驗機、振動試驗機、破裂強度試驗機、插拔力試驗機、等可靠性試驗儀器、信賴性試驗設備。 更多詳情請登陸www.aslitest.com